TWS耳机微跌测试设备
产品特点
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透明防护罩,实验过程中可观察测试品损坏状况
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推拉挡板方式变换耳机位置可满足不规则样品的跌落测试
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料筒封闭式结构,测试过程中样品始终不会跳出测试区域以外
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十个工位一拖五组合,测试效率相对较高
主要功能
- 自动手动功能
- 跌落高度可在一定范围内任意设定
- 测试频率可设定
- 可记录跌落次数,掉电可保持
- 安全防护功能
技术参数
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同时测试产品数量:6pcs
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跌落高度:10-200mm可设置
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跌落频率:10-30次/分可设置
工作环境和存储环境要求:
工作温度和湿度:温度 18℃~30℃,湿度 40%~60% (非冷凝)
存储温度和湿度:温度-10℃~60℃,湿度 40%~60% (非冷凝)
产品型号:WH-2108-6E
测试对象:TWS耳机
产品应用:该设备用于评估产品在重复微高度跌落后对产品性能的影响,适用于耳机等小型电子产品作重复微跌落测试。
测试对象:TWS耳机
产品应用:该设备用于评估产品在重复微高度跌落后对产品性能的影响,适用于耳机等小型电子产品作重复微跌落测试。
产品详情
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