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TWS耳机微跌测试设备

产品特点

  • 透明防护罩,实验过程中可观察测试品损坏状况

  • 推拉挡板方式变换耳机位置可满足不规则样品的跌落测试

  • 料筒封闭式结构,测试过程中样品始终不会跳出测试区域以外

  • 十个工位一拖五组合,测试效率相对较高

主要功能

  • 自动手动功能
  • 跌落高度可在一定范围内任意设定
  • 测试频率可设定
  • 可记录跌落次数,掉电可保持
  • 安全防护功能

技术参数

  • 同时测试产品数量:6pcs

  • 跌落高度:10-200mm可设置

  • 跌落频率:10-30次/分可设置

工作环境和存储环境要求:

工作温度和湿度:温度 18℃~30℃,湿度 40%~60% (非冷凝)

存储温度和湿度:温度-10℃~60℃,湿度 40%~60% (非冷凝)

产品型号:WH-2108-6E
测试对象:TWS耳机
产品应用:该设备用于评估产品在重复微高度跌落后对产品性能的影响,适用于耳机等小型电子产品作重复微跌落测试。

产品详情

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